Introduksjon til skanning av elektronmikroskop
Skanning av elektronmikroskop (skanning av elektronmikroskop, SEM) er et storskala presisjonsinstrument som brukes til høyoppløselig mikrotopografianalyse. Den har egenskapene til stor dybdeskarphet, høy oppløsning, intuitiv avbildning, sterk tredimensjonal følelse, bredt forstørrelsesområde, og prøven som skal testes kan roteres og vippes i tredimensjonalt rom.